접촉식 면저항측정기
Manual Type
Semi Auto Type
Full Auto Type
Handy type
비접촉식 면저항측정기
Manual Type
Semi Auto Type
Full Auto Type
In-line Type
Handy type
캐리어 라이프타임측정기
웨이퍼 Flatness / Resistivity
PN판정기
웨이퍼 두께측정기
Manual Type
Semi Auto Type
프로브헤드
확산저항측정기(SRP)
이미지센서 CIS 테스터
표준샘플
장비통합솔루션(측정모듈)
접촉식 면저항
비접촉식 면저항
PN판정
제품별
제품별
Wafer 두께측정기 (Semi Auto Type)
FLA-200
-Thickness : 200 –1200μm / Bow : +/-350μm / Warp : 350μm
- Applications : Semiconductor ma...
Non-contact Ultra-High range Rs measurement s...
CRN-100
- Rs : 10E+9 ~ 10E+15 Ω/sq
- Applications : Any sample within the measurement range can be measur...
Non-Contact (Pulse-Voltage excitation method)...
PVE-80
- Rs : 50u~1mΩ/sq
- Applications : Metal films (Ag , Cu , Au , Al or others)
- Size : ~W300 x D2...
Manual Rs/Res. measurement system
TCR-600
-Res : 10μ~100k・Ωcm
-Applications : Semiconductor materilas, Solar-cell materials (Silicon...
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제품별
제품별
