접촉식 면저항측정기
Manual Type
Semi Auto Type
Full Auto Type
Handy type
비접촉식 면저항측정기
Manual Type
Semi Auto Type
Full Auto Type
In-line Type
Handy type
캐리어 라이프타임측정기
PN판정기
웨이퍼 두께측정기
Manual Type
Semi Auto Type
박막 두께측정기
TSV측정기
프로브헤드
확산저항측정기(SRP)
이미지센서 CIS 테스터
표준샘플
Manual Type 제품별 > 비접촉식 면저항측정기 > Manual Type
Non-Contact (Pulse-Voltage excitation method)...
PVE-80
- Rs : 50u~1mΩ/sq
- Applications : Metal films (Ag , Cu , Au , Al or others)
- Size : ~W300 x D2...
Hand held instrument(Rs/Res)
EC-80P (Portable)
- Rs : 0.01~3000Ω/sq
- Res : 0.001~200Ω·cm
- Applications : Silicon wafer, GaAs Epi, GaN, GaP,...
Manual Rs/Res. measurement instrument
EC-80
- Rs : 0.01~3000Ω/□
- Res : 0.001~200Ω·cm
- Applications : Silicon wafer, GaAs Epi, GaN, GaP, ...
Manual Res/thickness measurement system
EC-80SCAN
- Rs : 0.01~3000 Ω/sq
- Res : 0.001~200 Ω·cm
- Thickness : 150~350 μm or 350~750 μm 
- A...

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