접촉식 면저항측정기
Manual Type
Semi Auto Type
Full Auto Type
Handy type
비접촉식 면저항측정기
Manual Type
Semi Auto Type
Full Auto Type
In-line Type
Handy type
캐리어 라이프타임측정기
PN판정기
웨이퍼 두께측정기
Manual Type
Semi Auto Type
프로브헤드
확산저항측정기(SRP)
이미지센서 CIS 테스터
표준샘플
비접촉식 면저항측정기 제품별 > 비접촉식 면저항측정기
Full Auto wafer sorting system
NC-3000Ｒ
- Res : 0.001∼60Ω·cm
- Thickness : 150∼800μm
- PN : 0.1~1000Ω·cm in resistivity
- Appli...
Full Auto wafer sorting system
NC-80T
- Res : 0.001∼60Ω·cm
- Thickness : 150∼800μm
- PN : 0.1~1000Ω·cm in resistivity
- Appli...
Full Auto Rs measurement system
NC-600MAP
- Measuring range : 1~3000 Ω/sq (option : 5mΩ/sq ~)
- Applicatons : Silicon wafer, GaAs Epi, GaN,...
Full Auto Resistivity measurement system
NC-120α
- Res : 0.001∼60Ω·cm
- Applications : Silicon wafer
- Wafer sizes : 8"Ф or 12"Ф

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