접촉식 면저항측정기
Manual Type
Semi Auto Type
Full Auto Type
Handy type
비접촉식 면저항측정기
Manual Type
Semi Auto Type
Full Auto Type
In-line Type
Handy type
캐리어 라이프타임측정기
웨이퍼 Flatness / Resistivity
PN판정기
웨이퍼 두께측정기
Manual Type
Semi Auto Type
프로브헤드
확산저항측정기(SRP)
이미지센서 CIS 테스터
표준샘플
장비통합솔루션(측정모듈)
접촉식 면저항
비접촉식 면저항
PN판정
제품별 제품별
Semi-auto Rs/Res. measurement
NC-80MAP
- Rs : 0.1~3000Ω/sq  (Option:1m~1Ω/sq)
- Res : 0.001~200Ω•cm
- Applications : Silicon wafer, GaAs Epi, GaN, GaP, InP, ITO and metal layers
- Size : 2”~8"Ф



- Resistivity 1probe version (NC-80M)


- Resistivity and thickness probe version (NC-80MAP+TH or NC-80M+TH)


- Fully automatic system version (NC-600MAP)




*Measurement video*
https://www.youtube.com/watch?feature=player_embedded&v=lP16RS25NH8